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X射線熒光光譜儀良好的散熱系統，能確保儀器的超長使用
更新日期：2022-12-30 瀏覽量：816 X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光（XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫學，考古學和藝術品，例如油畫和壁畫。
X射線熒光光譜儀產品特點：
1、無損檢測，可對電子電氣設備，玩具指令中的有害物質進行定性定量分析。
2、測量時間短，客戶可選擇測試時間：60-300秒。
3、全封閉式金屬機箱及防泄漏保護開關設計，更好地確保操作員的人身安全。流水線型外觀，美觀大方。
4、配備XY軸可移動平臺，方便樣品點選測試。
5、點擊軟件電動自動開關樣品腔蓋，無需手動打開關閉，人性化操作！
6、采用美國電制冷Si-pin探測器：提高分析的準確性，無需耗材。
7、超短光路設計，配套*的光管管控程序，更有效延長X光管壽命。良好的散熱系統，更能確保儀器的超長使用。
8、上照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求，的樣品成像準直系統，實現對樣品的準確點測。
9、移動平臺：精細的自動移動平臺，方便定位測試點。
10、準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動自動切換，滿足各種物質測試方式的應用。
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